草莓视频成人,国产98色在线 | 国,免费在线观看,人人操人人,最好的观看2018中文

測試服務

測試服務

Testing service

AFM(原子力顯微鏡)
概括
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy,簡稱AFM)利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力,從而達到檢測的目的,具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體,也可以觀察非導體,從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的,其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡(SPM)的觀測方法。原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在于并非利用電子隧穿效應,而是檢測原子之間的接觸,原子鍵合,范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性。
樣品的要求
原子力顯微鏡研究對象可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等,樣品的載體選擇范圍很大,包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等,其中最常用的是新剝離的云母片,主要原因是其非常平整且容易處理。而拋光硅片最好要用濃硫酸與30%雙氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用電性能測試時需要導電性能良好的載體,如石墨或鍍有金屬的基片。
試樣的厚度,包括試樣臺的厚度,最大為10 mm。如果試樣過重,有時會影響Scanner的動作,請不要放過重的試樣。試樣的大小以不大于試樣臺的大小(直徑20 mm)為大致的標準。稍微大一點也沒問題。但是,最大值約為40 mm。如果未固定好就進行測量可能產生移位。請固定好后再測定。

為什么深硅刻蝕中C4F8能起到鈍化作用?
為什么深硅刻蝕中C4F8能起到鈍化作用?

2024-11-27

RIE是一種結合了物理濺射和化學反應雙重機制的刻蝕技術。在等離子體中,離子和中性自由基共同作用于材料表面。其中,自由基的密度遠高于離子,它們通...

查看更多
【半導體材料】電子封裝材料有哪些?
【半導體材料】電子封裝材料有哪些?

2024-11-29

電子封裝材料作為連接芯片與外部世界的橋梁,其重要性不言而喻。合格的封裝不僅能夠為芯片提供物理保護,實現標準規格化的互連,更是確保電子產品性能...

查看更多
【MEMS工藝】三種常見CVD技術,你知道的有哪些?
【MEMS工藝】三種常見CVD技術,你知道的有哪些?

2024-11-04

本文將詳細介紹目前三種常見的CVD技術——低壓化學氣相沉積(LPCVD)、等離子體增強化學氣相沉積(PECVD)以及高密度等離子體化學氣相沉...

查看更多
【微納加工】晶圓傳輸設備,是智能制造加速器還是成本黑洞?
【微納加工】晶圓傳輸設備,是智能制造加速器還是成本黑洞?

2024-11-05

在半導體芯片制造中,從原材料處理到最終封裝測試,整個流程涉及上千道工序,每一環節都需要精確控制,以確保芯片的性能與質量。隨著科技的飛速發展,...

查看更多
  • 聯系我們
  • 聯系電話:0512-62996316
  • 傳真地址:0512-62996316
  • 郵箱地址:sales@si-era.com
  • 公司地址:中國(江蘇)自由貿易試驗區蘇州片區——蘇州工業園區金雞湖大道99號納米城西北區09棟402室
  • 關注與分析
蘇州硅時代電子科技有限公司 版權所有 Copyright 2020 備案號:蘇ICP備20007361號-1 微特云辦公系統 微納制造 MEMS設計
一鍵撥號 一鍵導航